海洋光学--微型光纤光谱仪的发明者
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光纤光谱仪  

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薄膜参考板

Reference Wafer

当我们测量很薄的硅晶圆或光学板层时可以使用我们的硅-二氧化硅参考晶圆。

硅-二氧化硅阶梯形晶圆的表面直径是100mm,有5种不同厚度的校正镀层分布在上面从0-500nm,用于测量膜厚和不同基底的透射层是理想的参比标准。

步进板由很薄的二氧化硅片镀在硅片上所构成。校正数据—硅板经过椭偏仪校正—包含每一个镀层的信息如X点,Y点ψ, δ, 周期 (in mm) 及膜厚(in mm)。

 

 

 

 

 

 

 

海洋光学 - 微型光纤光谱仪

 

 


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Variable-angle Reflection Sampling System

 

Reflection Stage

 

Reflection and Transmission Stage